服務熱線
010-86460119
歡迎訪問北京華測試驗儀器有限公司網站
日期:2020-07-01瀏覽:2455次
薄膜電弱點測試儀的研制
電氣用塑料薄膜的生產過程中,會出現(xiàn)薄膜穿孔、導電顆粒積聚、
劃傷等影響電氣性能的電弱點。根據標準《GB/T 13541-92 電氣
用塑料薄膜試驗方法》,電氣用塑料薄膜要求進行電弱點測試,在給
定直流電壓下每平方米的擊穿點(電弱點)數成為衡量薄膜質量的重
要指標。設計的薄膜電弱點測試儀,無須將膜卷分切成小卷,根據薄
膜的使用寬度直接進行電弱點測試。由于薄膜在生產過程中極易引起
縱向劃傷,該儀器*引用“電弱線”概念,即在規(guī)定的時間內檢測
到的試樣漏電流均超過 1 mA 時,認定為該薄膜試樣在生產過程中存
在縱向劃痕,從而產生“電弱線”,測試儀統(tǒng)計的電弱點總數為電弱
點數與電弱線數之和,這樣的測試數據更能真實地反映薄膜的質量水
平,且有助于分析生產過程中存在的問題,從而有針對地提出解決問
題的方案。
工作原理:
被測試的薄膜卷置于放卷臂上,通過絕緣導向輥將被測試的薄膜牽
引至收卷臂上,伺服電機驅動收卷臂使被測試的薄膜移動,構成走膜
裝置。通過固定在速度檢測輥的增量光電編碼器檢測薄膜移動長度,
根據被測試薄膜的寬度設定測試寬度,從而算出被測試的薄膜測試面
積。
測試的直流電壓正極接在導電橡膠安裝軸上,通過導電橡膠與移動
的薄膜一面接觸,形成上電極。移動的薄膜另一面與構成下電極的銅
輥接觸,銅輥通過漏電流采樣電阻與直流電壓負極連接,導電橡膠與
銅輥構成加壓裝置。
由走膜裝置、絕緣導向輥、速度檢測輥等構成被測試薄膜的面積檢
測系統(tǒng);由加壓裝置、漏電流采樣電阻等構成被測試薄膜的電弱點檢
測系統(tǒng)。
測試儀結構:
薄膜電弱點測試儀外形為柜狀一體化設計,左側為走膜及加壓裝
置,右側為控制系統(tǒng)及操作面板。
上一篇:電壓擊穿的試驗環(huán)境
下一篇:等離子體聚合物薄膜介紹與制備方法