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日期:2025-03-05瀏覽:55次
系統(tǒng)概述
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)是將環(huán)境試驗(yàn)箱與評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合,高效采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。系統(tǒng)自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。系統(tǒng)通過(guò)精確控制溫度環(huán)境,并測(cè)量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)(如電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)等參數(shù)值),從而評(píng)估其溫度特性。該系統(tǒng)通常具有高精度、高穩(wěn)定性和高可靠性的特點(diǎn),能夠適用于各種類(lèi)型的電容器,包括多層陶瓷電容器(MLCC)、陶瓷電容、薄膜電容等。
應(yīng)用領(lǐng)域
通信與信息技術(shù):在通信設(shè)備和信息技術(shù)產(chǎn)品中,電容器也扮演著重要角色。多通道電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)可以提供高效的測(cè)試方案,確保產(chǎn)品在各種溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。
電子材料:印刷電路板、通量、絕緣材料(樹(shù)脂、薄膜等)、介電材料(鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等)。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1.最多64個(gè)通道的自動(dòng)測(cè)量
可以測(cè)量不同溫度環(huán)境下的電容量 (C)、損耗因子(D) 和阻抗 (Z) 的多通道??梢赃x擇8個(gè)通道的倍數(shù),最多64個(gè)通道。
2.圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測(cè)量結(jié)果
收集的數(shù)據(jù),包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率,可以通過(guò)各種圖形函數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)審查。
3.可從不同測(cè)試模式選擇
溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。測(cè)試可與溫度特性評(píng)價(jià)測(cè)試或恒定運(yùn)行測(cè)試相合。
》 溫度特性評(píng)估測(cè)試
在此測(cè)試模式下,自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù),并與溫度變化同步,頻率步數(shù)201步(范圍可定制)。
》 持續(xù)運(yùn)行測(cè)試測(cè)試
模式測(cè)量以下參數(shù)的變化特定中隨時(shí)間推移的特征自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)。
》 頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)J皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí),自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。
4.多種可選夾具 適用于不同的試驗(yàn)樣本(可選)
除了 SMD 組件的專(zhuān)用夾具外,還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具。
技術(shù)指標(biāo)
1.測(cè)量項(xiàng)目:電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs,Rp) 和電感 (Ls,Lp)
2.測(cè)試方法:溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)(相對(duì)于溫度的變化)
恒定運(yùn)行檢測(cè)(相對(duì)于檢測(cè)時(shí)間的變化)
頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn) (相對(duì)于頻率的變化)
3.通道配置:8通道(標(biāo)準(zhǔn));最大值64通道可擴(kuò)展8通道增量
4.測(cè)量方法:交流四端對(duì)測(cè)量
5.測(cè)量范圍:測(cè)量頻率:20 Hz ~ 1 MHz
電容量 (C):50 pF ~ 5 mF
損失因子 (D):0.00001 ~ 9.99999
阻抗 (Z):0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ
6.測(cè)量?jī)x器:LCR 表 (可按需選擇型號(hào))
7.直流偏壓:0 ~ ±40V
8.溫度測(cè)量間隔:1 ℃
9.掃描周期:64通道可在1min之內(nèi)完成
10.頻率步長(zhǎng):201步(范圍可定制)
11.補(bǔ)償:短時(shí)補(bǔ)償,開(kāi)放補(bǔ)償
12.環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)控制:使溫度數(shù)據(jù)采集與測(cè)量和的溫度控制同步,具有RS-485功能的環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)
13.測(cè)量電纜:由聚四氟乙烯制成的同軸電纜 (特性阻抗 (Z),50Ω,95 pF/m)