產(chǎn)品型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-10-25

產(chǎn)品簡介：

華測可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀

一、華測可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀工作原理：

本測試儀試驗(yàn)電壓是0－20kV交直流電壓，其波動(dòng)為±1%。測試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動(dòng)。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿，擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)。

二、華測可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀主要特點(diǎn):

 該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用進(jìn)口品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過壓、過流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)。

三、華測可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀儀器參數(shù)：

四、華測可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀儀器結(jié)構(gòu)：

華測可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀

五、功能特點(diǎn)：

1本產(chǎn)品采用新智能控制技術(shù)，通過選擇程序（IEC或ASTM）可自動(dòng)進(jìn)行試驗(yàn)，并在工業(yè)觸摸屏顯示試驗(yàn)過程和結(jié)果。  

2控制系統(tǒng)采用的PLC和觸摸屏通信進(jìn)行控制。  

3安全性能良好，抗干擾強(qiáng)，測試精度高。  

4自動(dòng)化程度高，按照設(shè)定的試驗(yàn)要求，自動(dòng)升壓到設(shè)定的電壓后，自動(dòng)完成試驗(yàn)并自動(dòng)歸零。  

5電弱點(diǎn)測試儀電壓和電流具有自動(dòng)校驗(yàn)功能，方便計(jì)量和校準(zhǔn)。

華測公司介紹

 北京華測試驗(yàn)儀器為高新技術(shù)企業(yè)、中關(guān)村高新技術(shù)企業(yè)。公司專注于新材料電性能檢測以及電氣自動(dòng)化設(shè)備研發(fā)與制造?；谟脩粜枨蟪掷m(xù)，贏得了用戶的尊重和信賴。先后服務(wù)于電網(wǎng)、華為、中興、中航工業(yè)、、ABB、GE、中科院所等新材料產(chǎn)業(yè)及材料科研單位;  

 公司產(chǎn)品兩次登上中央臺(tái)，近年來承接多項(xiàng)重點(diǎn)試驗(yàn)室卡脖子技術(shù)功關(guān)，2021年度開發(fā)的絕緣材料電測系統(tǒng)受到電網(wǎng)表彰。公司近年來先后開發(fā)出電力設(shè)備絕緣診斷系統(tǒng)、功能材料鐵電測控系統(tǒng)、鋰電池隔膜電學(xué)測試系統(tǒng)等一系列產(chǎn)品，打破壟斷的局面。相關(guān)設(shè)備多次出口日本、巴斯斯坦、伊朗、越國、中國臺(tái)灣等與地區(qū)。并于2021年與天津大學(xué)成立材料電學(xué)綜合試驗(yàn)室，開展材料電學(xué)相關(guān)科研工作。

  公司研發(fā)團(tuán)隊(duì)深耕材料電測、軟硬件開發(fā)，并與西交大、西工大、川大、天津大學(xué)等開展一系列的科研合作。 作為材料電學(xué)檢測，華測儀器從儀器生產(chǎn)、安全防護(hù)、系統(tǒng)開發(fā)、數(shù)據(jù)采集、通訊網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)到云管理系統(tǒng)為用戶提供有競爭力的系統(tǒng)級(jí)方案與服務(wù)，幫助用戶在新材料研發(fā)與檢測獲得成功。對(duì)新材料檢測儀器、高的精度數(shù)據(jù)采集、系統(tǒng)集成和嵌入式控制領(lǐng)域持續(xù)進(jìn)行研發(fā)投入，功能材料及相關(guān)器件的電測與信號(hào)的調(diào)理與放大、傳感器的相關(guān)測控技術(shù)一直在研發(fā)前進(jìn)的路上。

華測可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀器

華測可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀器

華測儀器  品質(zhì)之選